電子芯片是電子產(chǎn)品的核心，所有的控制和操作都集中在芯片上。一般來說，芯片包含在產(chǎn)品外殼中，很少受到灰塵的影響，但不排除一些例外情況，如外殼損壞造成的灰塵侵入，會影響電子芯片的正常運(yùn)行。通過專業(yè)沙塵試驗箱，可以模擬各種灰塵侵入的場景。通過對電子芯片進(jìn)行灰塵試驗，可以很好地找到電子芯片的設(shè)計和保護(hù)缺陷。

　　電子芯片的防塵試驗主要研究不同顆粒大小的灰塵顆粒對電子芯片的影響。試驗的目的之一是檢測電子產(chǎn)品外殼對內(nèi)部芯片和其他元件的保護(hù)。二是了解灰塵侵入對芯片的影響，以及是否會短路起火。通過灰塵試驗箱創(chuàng)造不同的溫度和濕度環(huán)境，使用不同的灰塵濃度測試電子芯片。

 

　　專業(yè)沙塵試驗箱對電子芯片進(jìn)行防塵試驗時，一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的灰塵作為試驗源。電子芯片要求的防塵等級一般為IP5或IP6，旨在完全保護(hù)灰塵的進(jìn)入，或灰塵進(jìn)入后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般來說，電子芯片的防塵試驗是通過IP6等級的保護(hù)進(jìn)行的，因為灰塵堆積過多會對電子芯片造成損壞，所以完全防塵是一種很好的保護(hù)方法。